二箱式芯片冷熱沖擊測試箱

二箱式芯片冷熱沖擊測試箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數是否合格。將提供給您預測和改進產品的質量和可靠性依據。用于檢測電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技、科技及通信器材等產品在反復冷熱變化下的抵抗能力。

二箱式芯片冷熱沖擊測試箱符合標準
GJB360.7- 87溫度沖擊試驗;
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗; .
SJ/T10187-91 Y73系列溫度變化試驗箱--- -箱式;
SJ/T10186-91 Y73系列溫度變化試驗箱--二箱式;
滿足標準IEC68-2-14試驗方法N溫度變化;
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;
GB/T 2423.22-2002溫度變化;

1、三箱設備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行 沖擊，測試產品為靜態(tài)式。相對于兩箱多了常溫功能。

2、釆用觸控式圖控操作介面，操作筒易。

3、沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。

4、高溫沖擊或低溫沖擊時，最大時間可達999H,最大循環(huán)周期可達9999次。

5、系統可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

6、冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。